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纳米粒度及Zeta电位分析仪

描述:Zetatronix 系列纳米粒度及Zeta电位分析仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小,其表面的晶体结构发生变化,从而在电学、光学和化学活性等方面表现出的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数,准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数,Zeta电位越高,胶体系统就越稳定,反之,Zeta电位越

更新日期:2024-01-19
产品型号:
厂商性质:生产厂家
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详情介绍
品牌其他品牌价格区间面议
产地类别国产应用领域综合

  纳米粒度及Zeta电位分析仪用于测量颗粒粒度与Zeta电位。纳米颗粒由于粒径十分细小,其表面的晶体结构发生变化,从而在电学、光学和化学活性等方面表现出的性能。粒径大小是表征纳米材料性能的重要参数,准确了解颗粒粒度是控制纳米材料性能的关键。Zeta电位是表征胶体分散系稳定性的关键参数,Zeta电位越高,胶体系统就越稳定,反之,Zeta电位越低,胶体系统稳定性就越差,因此通过测量和调整体系的Zeta电位,就可以控制胶体的稳定性。因此,广泛应用于产品开发、生产、质量控制以及科学研究,以便深入了解产品特性。

 技术类型

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Zetatronix 939系列 查看详情

采用多角度动态光散射技术,提供更高分辨率的粒度测量结果

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Zetatronix 929系列 查看详情
采用背向动态光散射技术,可以测量高浓度样品的粒度

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Zetatronix 919系列 查看详情
采用经典动态光散射技术测量粒度
经典动态光散射(DLS)
背向动态光散射(BSDLS)
多角度动态光散射(MADLS)

测量角度11°、90°、175°11°、175°11°、90°
测量类型


粒度
Zeta电位
分子量
温度/时间趋势


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