2025年8月15日,由全国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会组织的《粒度分析 激光衍射法》国家标准与相关标准及校准规范宣贯会在上海市计量测试研究院成功举办。澳谱特科技(上海)有限公司作为粒度分析领域的研发生产企业,特派核心技术团队参会,与用户深入讨论标准内容,旨在提升自身技术水平,推动行业高质量发展。
此次宣贯会聚焦于GB/T 19077 - 2024《粒度分析 激光衍射法》等国家标准。会议期间,参会人员认真聆听来自上海市计量测试技术研究院等单位的标准主要起草人对各项标准的深度解读。从GB/T 19077 - 2024《粒度分析 激光衍射法》的核心要点,到GB/T 41949 - 2022《颗粒 激光粒度分析仪 技术要求》对仪器性能的严格规范,再到JJF 1211 - 2008《激光粒度分析仪校准规范》的校准细节,细致记录,深入思考,力求全面把握标准内涵。
澳谱特科技应用工程师在会上作了《动态光散射颗粒粒度测量方法及操作指南——国家标准解读》的报告,详细阐述了动态光散射法测量原理,纳米颗粒测量的相关标准,测量装置以及操作指南,并强调使用动态光散射法测量纳米颗粒粒度时,首先应检查散射光信号和光强自相关函数是否符合要求,其次为了检查结果是否受到高浓度效应的影响,需要对样品进行多次稀释和测量,若样品不能稀释,则使用背散射法测量高浓度样品粒度,以获得高质量的测量结果。
会议茶歇期间,澳谱特科技工程师对纳米粒度及Zeta电位分析仪进行了深度讲解。从仪器的核心工作原理,延伸至其在医药、材料等领域的多元应用,再到产品在检测速度、数据准确性上的显著优势,都讲解得清晰透彻。与会观众真切感受到澳谱特深厚的技术积淀与产品性能,现场咨询不断,反响热烈。
此次参会,澳谱特科技不仅深入掌握了粒度分析激光衍射法的最新标准和技术动态,还与行业内众多专家、企业建立了良好的沟通渠道,为公司未来在粒度分析领域的技术创新和业务拓展奠定了坚实基础。未来,澳谱特科技将继续遵循相关标准,不断优化产品和服务,为推动粒度分析行业的发展贡献力量。