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澳谱特科技参加第十二届中国颗粒大会(CCPT12)

 更新时间:2023-06-12 点击量:627

       2023年4月21-24日,第十二届中国颗粒大会在海口鲁能希尔顿酒店成功举办,本次会议是颗粒学领域综合性学术年会,吸引了来自全国高校、科研院所、企事业单位的2000余名科技工作者参加,80余家单位参展。大会以“创新助力双碳,绿色赋能发展"为主题,邀请了马光辉、郭烈锦、余艾冰等院士作特邀报告,围绕颗粒学相关领域的科研进展、产业发展趋势等展开交流。

       澳谱特科技专家刘伟教授应邀作了关于“动态光散射纳米颗粒粒度测量方法进展"的主题报告,从“自动过滤受灰尘干扰的散射光、相关函数的截取方式、背散射法测量高浓度样品粒度和退偏振动态光散射法棒状颗粒测量"等四方面分享了最新研究成果。

       2023年,澳谱特科技相继推出Zetatronix 939SZ多角度纳米粒度及Zeta电位分析仪,以及MorphoVIEW MIP380静态图像粒度粒形分析仪。Zetatronix 939SZ从多个不同的散射角进行光强自相关函数的测量,可以获得更多的粒度信息,并将其结合到一个数据分析中反演颗粒粒度分布,进而提高粒度分布的准确性。MorphoVIEW MIP380 静态图像粒度粒形分析仪基于显微镜结构,不仅能获取粒度参数,还能提供粒形参数,全维度展示颗粒特性。
       第十二届颗粒大会在海口圆满落幕,但未来之路任重而道远,澳谱特科技将会持续不断加大研发投入,提升技术水平,为中国颗粒学事业的发展贡献一份力量。
       2024嘉善年会再相聚!

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