新闻中心
首页 > 新闻中心 > 【新品上市】多角度纳米粒度及Zeta电位分析仪

【新品上市】多角度纳米粒度及Zeta电位分析仪

 发布时间:2022-10-25 点击量:72

      颗粒粒度对产品的质量起着至关重要的作用,为了帮助广大用户准确获得颗粒粒度信息,以便更好地指导工业生产,澳谱特科技推出了939SZ多角度纳米粒度及Zeta电位分析仪。不同粒度的颗粒在不同散射角具有不同的散射特性,多角度动态光散射从多个不同的散射角进行光强自相关函数的测量,并将其结合到一个数据分析中获取颗粒粒度分布。多角度动态光散射技术具有如下优点:  
      1.避免了对未知样品不恰当散射角度的选择  
      2.可以提供更多的信息进行颗粒粒度分布的反演  
      因此,多角度动态光散射技术可以获得更多的颗粒粒度测量信息,进而提高颗粒粒度分布的准确性。  

939SZ 纳米粒度及Zeta电位分析仪.png


技术支持:化工仪器网   sitemap.xml   管理登陆
©2022 版权所有:澳谱特科技(上海)有限公司   备案号:沪ICP备2020032931号-2