新闻中心
首页 > 新闻中心 > 澳谱特科技推出纳米粒度及Zeta电位分析仪

澳谱特科技推出纳米粒度及Zeta电位分析仪

 发布时间:2021-05-21 点击量:1513

      澳谱特科技(上海)有限公司于近日隆重推出OPT-919SZ新一代纳米粒度及Zeta电位分析仪,OPT-919SZ的面世,宣告拥有完全自主知识产权的国产Zeta电位分析仪在真正意义上开始商用。
      澳谱特科技诞生于中国国家高新技术产业开发区——上海紫竹高新区,作为实验分析仪器行业的新星,澳谱特科技深谙技术和创新的重要性,在成立之初就积极吸纳人才,组建了一支由理论基础深厚和实践经验丰富的技术专家构成的研发团队。为了更好地立足于仪器行业,满足客户的需求,澳谱特科技的专家团队坚持开拓与创新,深耕颗粒表征技术10余年,先后开发出拥有完全自主知识产权的高速数字相关器,动态图像粒度粒形分析仪以及最新推出的纳米粒度及Zeta电位分析仪。

OPT-919SZ纳米粒度及Zeta电位分析仪

       纳米颗粒的粒度对产品的质量起着至关重要的作用,纳米粒度测量是采用动态光散射技术分析样品颗粒散射光强随时间的涨落规律,使用光子探测器采集散射光,通过相关器进行自相关运算得到相关函数,再经过数学反演获得颗粒的粒径信息。为提高颗粒粒度测量的准确性和重复性,OPT-919SZ纳米粒度及Zeta电位分析仪采用了大功率低波长固体激光器和一体化光纤技术集成的光路,充分满足了空间相干性的要求,极大地提高了散射光信号的信噪比;采用高灵敏度光子探测器,利用边沿触发模式对光子进行计数,能瞬间捕捉光子脉冲的变化;积十年之功自主研发成功的高速数字相关器,采用高低速通道搭配结构,有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾,并保证了相关函数基线的稳定性;引入数据筛选功能,大幅提高了粒度测量结果的准确性。

蔗糖、溶菌酶、混合乳胶球颗粒样品在25℃下的粒度测量结果

       Zeta电位是表征分散体系稳定性的重要指标,澳谱特科技的Zeta电位分析是基于激光多普勒电泳光散射技术,利用先进的光纤技术集成发射光路和接收光路,使参考光和散射光信号的传输不受灰尘和外界杂散光的干扰,仪器的信噪比和抗干扰能力得到了有效提高;通过频谱细化分析,准确获得散射光的频移;基于双电层理论模型获得准确的颗粒半径与双电层厚度,利用最小二乘拟合算法获得精确的Henry函数表达式,进而有效提高了Zeta电位的计算精度及重复性和重现性。

聚苯乙烯颗粒分散体系电泳迁移率及Zeta电位的测量结果

      作为一款集合了仪器制造专业人士智慧的分析仪器,除了上述特点外,OPT-919SZ纳米粒度及Zeta电位分析仪还可以与澳谱特科技的多功能自动滴定系统相连接,配合强大易用的控制软件,获得纳米颗粒粒径和Zeta电位随pH值、添加剂浓度及温度变化的趋势。软件还具有一键式SOP测量功能,无需用户干预,自动调整散射光、自动优化光子相关器参数,以适应不同样品。
      澳谱特科技会继续深耕颗粒表征仪器的开发,加大创新力度,研发出更多品质过硬的产品。相信澳谱特科技在为行业发展注入强劲动力的同时,公司也将凭借良好的口碑创造属于自身的辉煌!

技术支持:化工仪器网   sitemap.xml   管理登陆
©2021 版权所有:澳谱特科技(上海)有限公司   备案号:沪ICP备2020032931号-2