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粒度测量的主要方法

 发布时间:2022-12-07 点击量:332

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       颗粒测量的方法很多,这些方法或是基于单个颗粒的维度,或是基于颗粒群体特征。每种方法涵盖不同的粒径范围,并基于不同的物理原理。一般来说,这些方法可以分为直接观测、基于颗粒群的光学方法和基于介质中颗粒运动的技术。常用的测量方法包括筛分法、显微图象(动态/静态)法、沉降法、电阻法、激光散射法、电子显微镜法、光阻法、透气法、动态光散射法等。  
       (1)筛分法具有简单、直观、设备造价低等特点,常用于大于40微米的样品。其缺点是结果受人为因素和筛孔变形影响较大。  
       (2)显微图像法除具有简单、直观等特点外,还可进行形貌分析,适合分布窄(最大和最小粒径的比值小于10:1)的样品。其缺点是代表性差,分析分布范围宽的样品比较麻烦。  
       (3)沉降法(包括重力沉降和离心沉降)操作简便,仪器可以连续运行,价格低,准确性和重复性较好,测试范围较大,缺点是测试时间较长,操作较繁琐。  
        (4)电阻法操作简便,可进行颗粒计数,速度快,准确性好,缺点是不适合测量小于0.1微米的颗粒样品,对粒度分布宽的样品需要频繁更换小孔管。  
       (5)激光散射法操作简便,测量速度,测量范围宽,重复性和准确性好,可进行在线测量和干法测量,其缺点是结果受分布模型影响。  
       (6)电子显微镜法适合超细颗粒测量,分辨率高,可进行形貌和结构分析。其缺点是样品少,代表性差,仪器价格昂贵。  
       (7)光阻法具有测量便捷快速,可测液体或气体中的颗粒数,分辨力高。其缺点是不适合测量小于1微米的颗粒样品,进样系统要求较高,仅适合尘埃、污染物或已稀释好的药物进行测量。  
        (8)透气法仪器价格低,不需对样品进行分散,可测磁性粉体材料。其缺点是只能得到平均粒度值,不能测粒度分布,且不能测小于微米细粉。  
       (9)动态光散射法适用于亚微米及纳米级颗粒的粒度测量,作为基光散射方法的一种,具有重复性和准确性好的特点,但其缺点也是测量结果受分布模型影响。  
       粒度测量技术基于多种原理,每种技术产生一个特征尺寸或等效球体的尺寸分布,对于非球形颗粒,测量结果则取决于测量原理。由于这种依赖性,采用不同技术得到的非球形颗粒的粒度分布则可能是有差异的,差异的大小很大程度上取决于颗粒的形状。

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