技术文章
首页 > 技术文章 > 纳米颗粒粒径检测的相关知识介绍

纳米颗粒粒径检测的相关知识介绍

 发布时间:2022-02-28 点击量:203
   纳米颗粒粒径检测,必须对多个参数进行表征才能很好地了解它们的特性和行为。除了纳米颗粒粒径外,粒径分布也很相关。粒径分布可以揭示诸如溶液中存在聚集体的状况,这反过来可能表明纳米颗粒的分散性较差。
 
  纳米颗粒粒径检测是指在三维空间中至少有一维处于纳米尺寸(1-100nm)或由它们作为基本单元构成的材料。由于它的尺寸很小,会产生很多特殊的效应,比如小尺寸效应、隧道效应以及大的比表面积效应等,因此使得纳米材料表现出不同的物理化学特性,例如熔点、磁性、光学、导热、导电特性等等,因而现在纳米材料被广泛应用于医药、化工、冶金、电子、机械、轻工、建筑及环保等行业。
 
  为了实现扫描电子显微镜(SEM)对纳米颗粒粒径检测的准确测量,研究了一种SEM放大倍数校准和光栅间距测量的方法;在SEM的不同放大倍数下对光栅纳米结构样板成像,运用软件对显微镜图像进行灰度处理并读取灰度图像的亮度值数据,通过确定顶线、基线、底线位置,有效消除成像质量及数据处理等的误差,准确确定质心横坐标,采用质心算法求取平均光栅间距,通过与光栅间距标称值比较计算校准系数和校准误差;为验证放大倍率校准结果的可靠性,对纳米颗粒粒度标准物质进行测量。实际测量的平均粒径与标准值一致,表明该校准方法准确可靠,可有效避免图像质量和人为因素对测量结果的影响,达到对纳米和亚微米颗粒粒径准确测量的目的。
技术支持:化工仪器网   sitemap.xml   管理登陆
©2022 版权所有:澳谱特科技(上海)有限公司   备案号:沪ICP备2020032931号-2