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纳米粒度及Zeta电位分析仪颗粒粒度测量的性能特点

 发布时间:2021-06-04 点击量:494
  纳米粒度及Zeta电位分析仪使用优化的反演算法,使得测量结果准确度高、重复性好,还可与多功能自动滴定系统相连接,配合强大易用的控制软件,获得纳米颗粒粒径和Zeta电位随pH值、添加剂浓度及温度变化的趋势。软件还具有一键式SOP测量功能,无需用户干预,自动调整散射光、自动优化光子相关器参数,以适应不同样品,是测量纳米颗粒粒度和Zeta电位的信赖之选。
  纳米粒度及Zeta电位分析仪颗粒粒度测量的性能特点:
  1.高效的光路系统:采用固态激光器和一体化光纤探头搭建而成的光路满足空间相干性的要求,提高了散射光信号的信噪比,激光器波长为532nm,最大功率50mW。
  2.高灵敏度光子探测器:采用计数型光电倍增管,对光子信号具有极高的灵敏度和信噪比;采用边沿触发模式对光子进行计数,瞬间捕捉光子脉冲的变化。
  3.大动态范围高速光子相关器:采用以高、低速通道搭配的结构设计光子相关器,有效解决了硬件资源与通道数量之间的矛盾,实现了大的动态范围,并保证了相关函数基线的稳定性。
  4.高精度温控系统:基于半导体制冷装置,采用自适应PID控制算法,样品池温度控制范围为0°~120°,精度达±0.1℃。
  5.剔除灰尘的影响:引入分位数检测异常值的方法,鉴别受灰尘干扰的散射光数据,并剔除异常值,提高粒度测量结果的准确度。
  6.优化的反演算法:采用优化拟合累积反演算法计算平均粒径以及多分散系数,基于非负约束正则化算法反演颗粒粒度分布,粒度测量范围为0.3nm-15μm,测量结果的准确度和重复性均优于1%。
  关于纳米粒度及Zeta电位分析仪的介绍就到这里了,希望看完这篇文章你能对产品有更多的了解!
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